Autor
Barzykowski, Jerzy (1930-2017)
Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
Tytuł
Współczesna metrologia : zagadnienia wybrane
ISBN
83-204-2888-2 : zł 60
Miejsce wydania
Warszawa :
Wydawnictwo
Wydawnictwa Naukowo-Techniczne,
UKD
006.91:531.7:621.317](07)
Hasła przedmiotowe
Pomiary
Komputery stosowanie pomiary
Sieci neuronowe stosowanie
Informacje dodatkowe
Bibliogr. przy rozdz. Indeks. Bibliogr. przy rozdz. Indeks.
Streszczenie
Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii. Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT). Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.
080
%a 006.91:531.7:621.317](07)
245
%a Współczesna metrologia :
%b zagadnienia wybrane /
260
%a Warszawa :
%b Wydawnictwa Naukowo-Techniczne,
%c 2004.
300
%a 573, [1] s. :
%b fot., rys., tab., wykr. ;%b fot., rys., tab., wykr. ;%b fot., rys., tab., wykr. ;
%c 24 cm.
504
%a Bibliogr. przy rozdz. Indeks.%a Bibliogr. przy rozdz. Indeks.
520
%a Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii. Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT). Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.
650
%a Sztuczna sieć neuronowa
650
%a Elektronika
%x pomiary
650
%a Internet
%x stosowanie
650
%a Komputery
%x stosowanie%x pomiary
650
%a Pomiary
%x teoria%x błędy
650
%a Sieci neuronowe
%x stosowanie
700
%a Barzykowski, Jerzy
%d (1930-2017)
710
%a Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
920
%a 83-204-2888-2 : zł 60