okładka zastępcza

Efekty wywołane gradientem temperatury w płytkach i strukturach półprzewodnikowych oraz ich wykorzystanie techniczne

Piotrowski, Tadeusz (1938- ), Instytut Technologii Elektronowej

Rok wydania: 2003.

Termoelektryczność, Termosprężystość, Metody badawcze, Monokryształy, Defekty struktury krystalicznej, Temperatura, Analiza numeryczna, Półprzewodniki, Zastosowanie i wykorzystanie badanie, Krzem badanie, Półprzewodniki, Termoelektryczność badanie, Termosprężystość badanie

dostępne:

1 z 1

Autor
Piotrowski, Tadeusz (1938- )
Instytut Technologii Elektronowej
Tytuł
Efekty wywołane gradientem temperatury w płytkach i strukturach półprzewodnikowych oraz ich wykorzystanie techniczne
ISBN
83-914179-3-X
Miejsce wydania
Warszawa :
Wydawnictwo
ITE,
Rok wydania
2003.
Objętość
145 s. :
Rozmiary
24 cm.
Seria
Biblioteka Elektroniki, 27 27 27
UKD
536:621.315.5:621.382:539.3/.5:548:519.61/.64
Hasła przedmiotowe
Termoelektryczność
Termosprężystość
Metody badawcze
Monokryształy
Defekty struktury krystalicznej
Temperatura
Analiza numeryczna
Półprzewodniki
Zastosowanie i wykorzystanie badanie
Krzem badanie
Półprzewodniki
Termoelektryczność badanie
Termosprężystość badanie
Informacje dodatkowe
Bibliogr. przy rozdz. Bibliogr. przy rozdz.
020
%a 839141793X
080
%a 536:621.315.5:621.382:539.3/.5:548:519.61/.64
100
%a Piotrowski, Tadeusz %d (1938- )
245
%a Efekty wywołane gradientem temperatury w płytkach i strukturach półprzewodnikowych oraz ich wykorzystanie techniczne /
260
%a Warszawa : %b ITE, %c 2003.
300
%a 145 s. : %b fot., rys., wykr. ;%b fot., rys., wykr. ; %c 24 cm.
490
%a Biblioteka Elektroniki, %v 27%v 27%v 27 %x 0067-7647 ;%x 0067-7647 ;%x 0067-7647 ;
504
%a Bibliogr. przy rozdz.%a Bibliogr. przy rozdz.
650
%a Termoelektryczność
650
%a Termosprężystość
650
%a Metody badawcze
650
%a Monokryształy
650
%a Defekty struktury krystalicznej
650
%a Temperatura
650
%a Analiza numeryczna
650
%a Zastosowanie i wykorzystanie %x badanie
650
%a Krzem %x badanie
650
%a Półprzewodniki
650
%a Termoelektryczność %x badanie
650
%a Termosprężystość %x badanie
650
%a Półprzewodniki
710
%a Instytut Technologii Elektronowej
830
%x 0067-7647 ;%x 0067-7647 ;%x 0067-7647 ;
920
%a 83-914179-3-X

Dostępne egzemplarze

1.
Numer inwentarzowy: 45504
Sygnatura: 45504
Kaucja: 0.00 PLN
Status: Do wypożyczenia

Najczęściej wypożyczane