Autor
Sowiński, Andrzej (1922-1996)
Wydawnictwa Komunikacji i Łączności
Tytuł
Automatyczne testowanie w mikroelektronice
Miejsce wydania
Warszawa :
Wydawnictwo
Wydawnictwa Komunikacji i Łączności,
Objętość
432 s., [2] k. tabl. :
UKD
621.3.049.77:621.317:681.322](075.8)
Hasła przedmiotowe
Mikroelektronika
Kontrola techniczna urządzenia kontrola
Mikroukład elektromechaniczny
Informacje dodatkowe
Bibliogr. s. 415-432. Bibliogr. s. 415-432.
080
%a 621.3.049.77:621.317:681.322](075.8)
100
%a Sowiński, Andrzej
%d (1922-1996)
245
%a Automatyczne testowanie w mikroelektronice /
260
%a Warszawa :
%b Wydawnictwa Komunikacji i Łączności,
%c 1991
%e (Warsz. :%e (Warsz. :
%f DNT).%f DNT).
300
%a 432 s., [2] k. tabl. :
%b fot., rys., wykr. ;%b fot., rys., wykr. ;
%c 25 cm.
504
%a Bibliogr. s. 415-432.%a Bibliogr. s. 415-432.
650
%a Kontrola techniczna
%x urządzenia%x kontrola
650
%a Mikroukład elektromechaniczny
710
%a Wydawnictwa Komunikacji i Łączności